FT-351 系列高溫四探針電阻率測試儀
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FT-351 系列高溫四探針電阻率測試儀的詳細資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
FT-351系列高溫四探針電阻率測試儀 一.概述: 采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統與高溫箱結合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數據的處理和測量控制,解決半導體材料的電導率對溫度變化測量要求,軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻,電阻率,電導率數據的變化曲線(xiàn)圖譜,及過(guò)程數據值的報表分析.
FT-351系列高溫四探針電阻率測試儀 用于:企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數據. 雙電測四探針儀是運用直線(xiàn)四探針雙位測量。設計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標準。
FT-351系列高溫四探針電阻率測試儀
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