雙電測四探針測試儀
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雙電測四探針測試儀的詳細資料 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
雙電測四探針測試儀
雙電測數字式四探針測試儀是運用直線(xiàn)或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,對數據進(jìn)行雙電測分析,自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,它與單電測直線(xiàn)或方形四探針相比,大大提高度,特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
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